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光譜橢偏儀
實驗須知
實驗提交后提交內容僅作為平臺實驗評估使用,不代表一定進行實驗。

樣品要求:

1. 樣品信息,基底、薄膜材料及厚度,樣品6寸及以下

2. 需要確定掃描波長,本儀器光譜范圍190-2500nm

3. 測試薄膜,需要告知襯底材質、薄膜材料和厚度

4. 測試結果,膜厚、折射率n、消光系數k

5. 應用范圍:FPD、半導體、光學材料、AR膜等



聯系人
田老師: 13552409586
  • Q
    是否需要回收樣品
  • 樣品 1
    樣品名稱
  • 1.1
    樣品形態
    * 請選擇測試樣品形態
  • 1.2
    存放條件
    * 請選擇測試樣品存放條件
  • 1.3
    樣品成分
    * 請填寫測試樣品主要成分
  • 1.4
    襯底材料
    * 請填寫測試樣品襯底材料
  • 1.5
    襯底上是否生長薄膜
    * 請選擇測試樣品襯底上是否生長薄膜
  • 1.6
    薄膜材料,厚度以及吸光情況
    * 請填寫襯底上生長薄膜的主要成分和薄膜厚度以及吸光情況
  • 1.7
    測試波長范圍
    -
    * 請填寫樣品測試波長范圍
  • 1.8
    測試項目
    * 請選擇樣品測試項目
  • 1.9
    測試位置
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(當您的樣品測試要求或測試需求不一樣,您可以再增加一組樣品)
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