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透射電鏡/透射電子顯微鏡/球差電鏡/TEM/ACTEM
實驗須知
實驗提交后提交內容僅作為平臺實驗評估使用,不代表一定進行實驗。

樣品要求:

磁性的塊體和薄膜樣品只接受FIB制樣。

1.粉末樣品,要求無顆粒感,建議100nm以下,一般用乙醇分散后超聲,撈到超薄碳膜上,特殊要求請在表單處說明。
2.為了達到理想效果,
塊體樣品,薄區厚度60-70nm左右。

3.磁性樣品需提前告知。
4.
米格實驗室提供電解雙噴,超薄切片,FIB,離子減薄等制樣手段,如需制樣,請聯系楊老師。

詳細的實驗細節可進行下面表格填寫


聯系人
楊老師: 18301325784
  • Q
    是否需要回收樣品
  • 樣品 1
    樣品名稱
  • 1.1
    樣品所含全部元素
    * 含有磁性元素Fe,Co,Ni,Mn的一定提前告知,磁性樣品對電鏡有損壞
  • 1.2
    樣品形態
    *
  • 1.3
    是否需要制樣
    * 如需FIB制樣,請填寫FIB制樣預約單
  • 1.4
    預約電鏡類型
    *
  • 1.5
    是否需要數據分析
    * 數據分析額外收費300起,具體根據難易程度評估
  • 1.6
    其他/參考數據
    * 其他要求可在此進行說明,如放大倍數,拍攝數量。如果有相關的參考數據文件提供,可到下方附件處上傳。
點擊添加一組樣品
(當您的樣品測試要求或測試需求不一樣,您可以再增加一組樣品)
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實驗方式
合計費用約
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